纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化：从电路级到系统级

定　　价：69 元

• 作者：靳松、韩银和
• 出版时间：2019/6/1
• ISBN：9787302522997
• 出 版 社：清华大学出版社

• 中图法分类：TN431.2 
• 页码：188
• 版次：1

内容简介

本书主要涉及在纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应——负偏置温度不稳定性和制造过程中引起的参数偏差。介绍了参数偏差效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响，并提出了从电路级到系统级的相应的分析、预测和优化方法。