晶体学、粉末X射线衍射与透射电子显微学基础

定　　价：80 元

• 作者：潘昆明译
• 出版时间：2024/6/1
• ISBN：9787502499723
• 出 版 社：冶金工业出版社

• 中图法分类：O72 
• 页码：331页
• 版次：1
• 开本：26cm

内容简介

结构与性能之间的关系是材料科学与工程领域的关键话题之一。要理解为什么一种材料能够展现出某种性能，首先是分析其晶体结构，揭示其结构特征。本书为读者深入解释了如何借助X射线衍射和透射电子显微镜进行晶体结构分析。本书主要内容如下：晶体学基础；材料的X射线衍射，包括几何原理、X射线衍射强度以及实验方法；材料的透射电子显微技术，包括原子散射因子、电子衍射和相位对比；讨论HRTEM在材料研究领域的运用；XRD与TEM实操相关概念解释。本书分三大部分全面详细地介绍了晶体学、X射线衍射以及投射电子显微学方面的重要概念、原理和相关运算，并结合作者丰富的教学经验，辅以大量示例及帮助读者更好地理解。同时，本书对应用物理学、化学工程等相关领域的交叉学科研究也同样具有参考意义。